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XAVU真空型多功能XRF_涂鍍層測厚儀_X熒光光譜儀

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更廣的分析范圍：用于地礦、合金、及貴金屬等物質(zhì)中Na(11)-U(92)元素的成分分析

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更廣的分析范圍：用于地礦、合金、及貴金屬等物質(zhì)中Na(11)-U(92)元素的成分分析；可檢測Li(3)-U(92)的涂鍍層分析

無損變焦檢測技術(shù)：可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm

自主研發(fā)EFP算法：的EFP算法不但對多層測試精準(zhǔn)、校準(zhǔn)方便，而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測難題

智能超密閉真空系統(tǒng)：智能超抽密閉真空系統(tǒng)，排除環(huán)境對檢測結(jié)果的干擾，測量范圍更廣，測量結(jié)果更準(zhǔn)確

的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限

高性能探測器：高性能SDD硅漂移探測器，測量精度納米級

XAVU是一款一機多用型X熒光光譜儀，配備智能抽真空系統(tǒng)，高性能的屏蔽性能去除大氣對低能元素的影響，對Na、Mg、Al、Si、P等輕元素鍍層厚度及成分測試精度更高.測量C-U元素，Li-U的涂鍍層。

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